- 功能強大的64位數據采集和分析軟件
- 單點，2D，和3D的TTTR數據采集，包含有可在線預覽FLIM，FCS，time trace和TCSPC數據的功能
- FLIM、快速FLIM和FLIM-FRET
- FCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相關，總相關分析
- FRET、PIE-FRET
- 熒光隨時間的分析及單分子熒光爆發現象分析
- 各向異性分析
- TCSPC壽命擬合，包括先進的誤差分析
- 基于"STUPSLANG"語言的用戶自定義編譯腳本功能
熒光壽命成像和相關分析軟件SymPhoTime 64可以被用于時間分辨共聚焦數據采集實驗，如：
|
數據采集 |
|
|
可聯用TCSPC模塊 |
HydraHarp 400，PicoHarp 330，PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150 |
|
可聯用熒光系統 |
MicroTime 200
激光掃描顯微系統 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 |
|
探測通道數量 |
1到 8 detectors |
|
采集模式 |
單點采集，多點采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定時成像(XYT)，用于調節系統時使用的示波器模式
|
|
采集預覽 |
FLIM, FCS, FLCS和FCCS, Time Trace, TCSPC柱狀圖 |
|
自動化測量 |
Z軸逐層成像,定時成像,圖片縫合,多點測量 |
|
硬件控制 |
PDL 828 "Sepia II" 激光驅動器 E-710, E-725, E-727和寬范圍掃描儀控制器(Physik Instrumente) MicroTime 200的快門系統 MicroTime 200中寬視場熒光相機IDS uEye USB3 |
|
數據分析 |
|
|
總體特點 |
時間門控
TCSPC binning 最小平方擬合,最大可能性估算擬合,IRF解卷積擬合，尾部擬合，自舉誤差分析 TCSPC曲線的全局化分析 圖形化交互界面 |
|
成像 |
FLIM, FLIM-FRET,熒光強度FRET,各向異性成像, (時間門控)熒光強度成像
Pattern Matching,快速Pattern Matching |
|
相關分析 |
FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS |
|
FRET |
PIE (脈沖交錯激發) |
|
STED |
STED,門控STED, STED-FLIM,交錯脈沖 STED及共聚焦,分辨率估計 |
|
熒光強度Trace |
分子閃爍(On/Off柱狀圖),計數率柱狀圖 (PCH),爆發量柱狀圖,強度門控制TCSPC,熒光壽命 Traces,壽命柱狀圖, BIFL |
|
穩態各向異性 |
包含物鏡校正系數 |
|
導出數據格式 |
BMP, ASCII, TIFF, BIN |
|
用戶自定義腳本編譯 (STUPSLANG) |
用戶自定分析步驟,擬合功能,多條件篩選 |
|
電腦CPU規格要求 |
四核或更高 |
|
CPU主頻 |
2.2 GHz (或更高)四核 CPU |
|
內存容量 |
最小4 GB (推薦16/32 GB) |
|
操作系統 |
Windows 10 x64 |
|
硬盤容量 |
>= 100 MB (不包括數據存儲) |
|
顯示器 |
Full HD Display |
|
加密方式(HASP) |
USB |
