- 基于倒置顯微鏡的完整共聚焦STED系統
- 光學分辨率低于50nm
- 640nm激發,595nm和660nm附加可選
- 支持門控STED(gSTED)和gSTED-FCS
- 壓電平移臺,用于2D,3D壽命成像和精確定位
- 匹配有高級版易用型數據采集、分析和可視化軟件SPT64
- AFM/FLIM/STED聯用的獨特升級
- 支持MicroTime 200可用的所有其他手段,即FLIM、FCS、FCCS、FLCS、FRET等
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FLIMbee 振鏡掃描附件,具有出色的掃描速度靈活性和優秀的空間精度
- 可以通過使用FLIMbee振鏡在X軸上進行線掃描來實現scanning FCS測量