- 自校準
- 測量長度：200m
- 波段：C+L波段：1525~1625nm、O波段：1265~1340nm（可選）
- 1秒內測量多種光學參數
OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該系統采用獨特光路設計以及先進算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間。
測量參數：
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主要參數 |
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標準模式 |
高動態范圍模式 |
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測量長度1 |
200 |
m |
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波段 |
C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340 |
nm |
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波長分辨率 |
1.6 |
pm |
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波長精度 |
±1.0 |
pm |
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損耗（IL） |
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動態范圍 |
60 |
80 |
dB |
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插損精度 |
±0.1 |
±0.05 |
dB |
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分辨率 |
±0.05 |
±0.002 |
dB |
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回損精度 |
±0.1 |
dB |
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群延時 （GD) |
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量程 |
6 |
ns |
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精度 |
±0.2 |
±0.1 |
ps |
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損耗范圍 |
45 |
60 |
dB |
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色散（CD） |
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精度 |
±10 |
±5 |
ps/nm |
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偏振相關損耗（PDL) |
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動態范圍 |
40 |
50 |
dB |
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精度 |
±0.05 |
±0.03 |
dB |
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偏振模色散（PMD） |
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|
量程 |
6 |
ns |
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|
精度 |
±0.1 |
ps |
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損耗范圍 |
40 |
50 |
dB |
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硬件 |
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主機功率 |
60 |
W |
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通訊接口 |
USB |
- |
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光纖接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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儲存溫度 |
0 ~ 50 |
℃ |
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儲存與工作溫度 |
10 ~ 40 |
%RH |
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定制功能2 |
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測量長度 |
100 |
m |
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空間分辨率 |
10μm@50m |
20μm@100m |
μm |
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回損測量范圍 |
-125 ~ 0 |
dB |
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插損動態范圍 |
18 |
dB |
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插、回損分辨率 |
0.05 |
dB |
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插、回損精度 |
±0.1 |
dB |
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備注：
1.透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；
2.光矢量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。
