- 空間分辨率：20μm
- 測量長度：50m
- 中心波長：1550nm
- 插損、回損分析
LGA50光學器件分析系統具有功能齊全、性價比高等特點，可實現器件、光模塊等光學鏈路全范圍插損、回損、長度的精確測量。長度測量范圍為50m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm，適用于定量分析、品質監測及故障診斷。
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類別 |
指標 |
單位 |
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測量長度1 |
50 |
m |
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空間分辨率2 |
20 |
μm |
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波長掃描范圍 |
40 |
nm |
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中心波長 |
1550 |
nm |
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波長精度 |
1.0 |
pm |
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回損動態范圍 |
65 |
dB |
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回損測量范圍 |
-130~0 |
dB |
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回損靈敏度 |
-130 |
dB |
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回損測量精度 |
±0.5 |
dB |
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回損分辨率 |
±0.05 |
dB |
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插損動態范圍3 |
13 |
dB |
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插損測量精度 |
±0.5 |
dB |
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輸入電壓 |
AC 220/110V; DC 12V |
- |
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主機功率 |
60 |
W |
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通訊接口 |
USB |
- |
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光纖接口 |
FC/APC |
- |
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尺寸 |
W 345 * D 390 * H 165 |
mm |
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重量 |
7.5 |
kg |
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儲藏溫度 |
0~50 |
℃ |
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工作溫度 |
10~40 |
℃ |
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工作濕度 |
10~90 |
%RH |
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擴展功能4 |
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采集頻率 |
5Hz@(20m,42nm) |
15Hz@(20m,10nm) |
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備注：
