- 用于時間分辨微光致發光(micro-PL)光譜的各種顯微鏡-光譜儀耦合選項
- 指定區域或興趣點的穩態光譜和時間分辨光譜
- 多維數據集:光譜、時間和空間信息
- 高度模塊化和靈活的設計
一方面，發光激發和發射光譜是分析各種材料的基礎。另一方面，顯微鏡圖像可以揭示發光特性的空間變化，例如，由于材料中的結構缺陷造成的空間變化。此外，發光壽命是材料的固有特性，既可用于識別材料，也可用于感知材料所處的環境。通過結合相關數據集中的所有三類信息，研究人員可以就所研究材料的特性和行為得出新的結論。
根據您的應用和要求，各種顯微鏡(FluoMic、MicroTime 100、MicroTime 200)可以與光譜儀(FluoTime 300、FluoTime 250)或FlexWave波長選擇器單元結合使用。
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顯微系統 |
FluoMic |
MicroTime 100 |
MicroTime 200 |
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顯微鏡機身 |
正直 |
正直 |
倒置 |
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觀察體積 |
μm(2 – 100 μm) |
共聚焦 |
共聚焦 |
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成像速度 |
可選掃描升級， |
壓電掃描儀，> 30秒 |
根據壓電掃描儀，> 30秒 |
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軟件 |
用于數據采集和分析的SymPhoTime 64 |
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載流子擴散升級 |
不 |
是 |
是 |
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FluoTime 250 |
FluoTime 300 |
FlexWave |
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檢測器類型 |
PMA Hybrid |
PMA Hybrid, NIR PMT |
PMA Hybrid, SPAD |
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探測器數量 |
1 |
1 - 2 |
1 - 4 |
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光譜范圍 |
UV - VIS |
UV - VIS - NIR |
400 - 1000 nm |
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譜分解 |
單色儀1 nm |
單色儀1 nm，雙單色儀0.1 nm |
1 nm |
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探測靈敏度 |
單單色儀的損耗為60 - 70 %,取決于光柵和涂層 |
雙單色儀的損耗為70 - 75 %,取決于光柵和涂層 |
傳輸率> 80 % |
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軟件 |
EasyTau 2 |
EasyTau 2 |
SymPhoTime 64 |
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數據 |
時間分辨發射光譜 |
時間分辨發射光譜 |
時間分辨發射光譜，TRES成像、波長相關反聚束 |
* FLIMbee僅適用于FluoTime耦合，與FlexWave不兼容
用于采集時間分辨圖像的共聚焦顯微鏡 MicroTime 100 和 MicroTime 200 還可以配備光譜儀和 EMCCD 相機，以獲得每個圖像像素的穩態發射光譜，或配備光譜儀和 sFLIM 探測器，以測量每個圖像像素的時間分辨發射光譜。
根據研究問題和樣本類型，一種技術實施可能比其他技術實施更適合。
如需了解更多信息，請聯系我們。
一方面，發光激發和發射光譜是分析各種材料的基礎。另一方面，顯微鏡圖像揭示了發光性質的空間變化，例如，由于材料中的結構缺陷。此外，發光壽命是材料的固有特性，可用于識別材料或感知其局部環境。通過結合來自相關數據集的所有三種類型的信息，研究人員可以得出關于所研究材料的屬性和行為的新結論。
