日前，東隆科技發布了新升級的光纖微裂紋檢測系統，又稱OLI低成本光學鏈路診斷系統，它廣泛用于光纖或光器件微裂紋檢測。此次升級的核心是在保證測量時間、測量性能的情況下，其測量長度由6cm延伸到12cm，取得了突破性的進展。
OLI光纖微裂紋檢測系統原理基于光學相干檢測技術，利用白光的低相干性可實現小體積精密結構內部的微損傷檢測。該系統可輕松查找并精準定位器件內部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。其事件點定位精度高達幾十微米，最低可探測到-80dB光學弱信號。
隨著光纖微裂紋檢測系統（OLI）咨詢量的提升，客戶對我們產品興趣愈加濃厚。為滿足客戶差異化需求，東隆科技不斷優化產品性能，短時間內就將測量長度升級了一倍，致力為客戶解決更多問題。
產品特點
? 1μm采樣分辨率
? -80dB動態范圍
? 12cm測量長度
產品應用
? 光纖微裂紋檢測
? 硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
? FA光纖陣列鏈路性能檢測
? 光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測
此外，目前12cm的測量長度只是我們的階段性成果，后續還會不斷進行產品性能優化，爭取突破更多可能。
