隨著AI技術(shù)應(yīng)用越來越廣，算力需求激增，光通信系統(tǒng)正加速向小型化、高密度、多通道方向演進。硅光芯片、高速光模塊等核心器件內(nèi)部的光纖通道數(shù)量成倍增加，波導(dǎo)結(jié)構(gòu)愈發(fā)精細(xì)，傳統(tǒng)檢測手段因分辨率不足、效率低下，難以精準(zhǔn)定位微米級損傷或耦合失效點，成為制約產(chǎn)品良率和性能的瓶頸。相比于傳統(tǒng)光纖鏈路測量方法（如功率計、插回?fù)p儀、紅光筆、光譜儀等），國產(chǎn)自研的OLI光纖微裂紋檢測儀可分布式測量光鏈路中所有位置的回波損耗，實現(xiàn)一鍵掃描，內(nèi)部結(jié)構(gòu)反射強度的可視化測量。
OLI核心技術(shù)：光學(xué)低相干檢測
OLI即Optical Low coherence Interrogator，其基于光學(xué)相干檢測技術(shù)（Optical Coherence Detection），通過白光（寬譜光）的低相干性原理，實現(xiàn)了對光纖鏈路和光學(xué)器件的亞毫米級空間分辨率探測，靈敏度高達(dá)-100dB，可精準(zhǔn)捕捉微裂紋、斷點、耦合異常等缺陷。其技術(shù)亮點包括：
①高精度定位
采樣分辨率達(dá)1μm，事件點精度達(dá)百μm，可清晰呈現(xiàn)光鏈路中每個事件節(jié)點（如連接器端面、芯片波導(dǎo)接口）的回波損耗分布，快速鎖定故障位置。
②分布式測量
OLI區(qū)別于傳統(tǒng)的功率指標(biāo)測量，其最大特點即是可在某一長度范圍內(nèi)實現(xiàn)分布式強度信號測量，一鍵掃描，可查看最長90cm范圍內(nèi)每個位置點的反射信號強度，協(xié)助客戶判斷待測品中各種精細(xì)結(jié)構(gòu)端面異常情況，耦合好壞，微彎損耗，微裂紋點等。
③快速自動化檢測
升級后的OLI支持多通道測試，并且添加了精準(zhǔn)掃描功能，客戶可根據(jù)實際需要測量的范圍精準(zhǔn)設(shè)置掃描位置，2cm長度掃描范圍僅需1.5s，適配產(chǎn)線高速測量需求，效率提升超80%。同時，設(shè)備還開發(fā)了遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸功能，可實時傳輸測試數(shù)據(jù)到客戶自己的云端數(shù)據(jù)庫，方便出貨調(diào)用或后期失效查閱。
④多場景兼容性測試
可對硅光芯片、高速光模塊、光纖連接器、復(fù)雜的光路耦合系統(tǒng)等場景進行測量，并可支持FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC等多種接頭類型及端面類型測試。
OLI優(yōu)勢：從失效分析到工藝優(yōu)化
①硅光芯片的“全鏈路透視”
硅光芯片作為5G、AI算力的核心載體，其內(nèi)部光波導(dǎo)與外部光纖的耦合質(zhì)量直接影響信號傳輸效率。OLI可精準(zhǔn)檢測耦合面質(zhì)量、FA內(nèi)部裂紋、FA帶纖裂紋及損傷等缺陷，助力優(yōu)化設(shè)計并提升制造良率。
②高速光模塊的產(chǎn)線級質(zhì)控
面對400G/800G光模塊的多通道波分復(fù)用架構(gòu)，OLI可快速掃描模塊內(nèi)部光纖鏈路，定位微損傷或連接異常。單次點擊測量，同時出所有通道測量結(jié)果，方便數(shù)據(jù)對比和分析。
③光纖連接器的精密檢測
隨著光模塊的速率越來越高、光纖鏈路的越來越復(fù)雜，光纖連接器早已不再只是傳統(tǒng)的單模單芯了。AI的火熱，使得MPO/MT類光纖連接器出貨量激增，相應(yīng)的光纖FA轉(zhuǎn)MPO/MT類跳線也是訂單明顯增加。隨著器件模塊的訂單價值越來越高，客戶對此類連接頭及帶纖的質(zhì)量要求也越來越高。分布式回?fù)p檢測儀（光纖微裂紋檢測儀）的市場將會越來越大。
OLI應(yīng)用場景
①研發(fā)、制造光連接器或光纖跳線的企業(yè)
在連接器或光纖跳線制造過程中，使用OLI能有效避免一些微小裂紋和細(xì)微缺陷，防止長期的產(chǎn)品失效，確保產(chǎn)品質(zhì)量。
②光模塊制造企業(yè)
在光模塊耦合及組裝過后，可使用OLI進行光學(xué)鏈路信號測試，作出貨監(jiān)測，以確保組裝過程中沒有失效。另外，也可用OLI對來料的帶纖跳線進行來料檢驗，以做批量物料的IQC檢驗合格測試。
③從事波導(dǎo)結(jié)構(gòu)設(shè)計、硅光芯片、光學(xué)元件或光路系統(tǒng)的研發(fā)制造單位
OLI可通過測量內(nèi)部光學(xué)元件（如透鏡、芯片、波片等）之間的距離及端面反射強度，判斷整個器件或模塊的性能好壞，并隨時調(diào)整工藝結(jié)構(gòu)（如耦合間距、鍍膜反射率等）。
OLI光纖微裂紋檢測儀憑借其高精度、分布式測量和快速自動化檢測能力，已成為光通信領(lǐng)域研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的重要工具。它不僅能夠幫助工程師精準(zhǔn)定位微裂紋、耦合異常等缺陷，還能顯著提升產(chǎn)線效率和產(chǎn)品良率。隨著光通信技術(shù)的快速發(fā)展，OLI將持續(xù)升級，以更高的精度和更廣的測量范圍滿足復(fù)雜光器件的檢測需求。東隆科技始終秉持“以服務(wù)創(chuàng)造未來”的理念，為客戶提供全方位的售前、售后及技術(shù)支持服務(wù)，助力客戶實現(xiàn)智能化檢測體系的構(gòu)建與優(yōu)化。
