掃頻光譜分析系統SSA
SSA是一款測量光學器件透射光譜響應的分析系統。其原理采用線性掃頻光源對待測器件進行快速掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的光譜響應，進而得到待測器件在不同波長下的損耗分布。該系統還可選配GD、CD、PDL、PMD等光學參數測量，系統內置掃頻光源，可應用于光學測量及分析系統的二次開發。
產品特點
-
多功能
-
C+L、O波段（可選）
-
可擴展掃頻光源
-
可拓展GD、CD、PDL、PMD等光學參數測量
主要應用
-
平面波導器件
-
硅光器件
-
光纖器件
-
波長可調器件、放大器、濾波器
-
光學測量分析二次開發
參數
|
主要參數
|
|
損耗（IL）
|
|
|
|
測量長度
|
200
|
m
|
|
波段 1
|
1525 ~ 1565；1290 ~ 1330
|
nm
|
|
波長分辨率
|
1.6
|
pm
|
|
波長精度
|
±1.0
|
pm
|
|
動態范圍
|
60
|
dB
|
|
插損精度
|
±0.1
|
dB
|
|
分辨率
|
±0.05
|
dB
|
|
掃頻光源
|
|
|
|
功率 3
|
1
|
mW
|
|
波長 1
|
1525 ~ 1565；1290 ~ 1330
|
nm
|
|
波長精度
|
5
|
pm
|
|
掃描速度
|
10 ~ 100
|
nm/s
|
|
邊摸抑制比
|
60
|
dBc
|
|
消光比
|
15
|
dB
|
|
硬件
|
|
|
|
主機功率
|
60
|
W
|
|
通訊接口
|
USB
|
-
|
|
光纖接口
|
FC/APC
|
-
|
|
尺寸
|
W 345 * D 390 * H 165
|
mm
|
|
重量
|
7.5
|
kg
|
|
儲藏溫度
|
0 ~ 50
|
℃
|
|
工作溫度
|
10 ~ 40
|
℃
|
|
工作濕度
|
10 ~ 90
|
%RH
|
備注：
-
1.可升級掃描范圍；
-
2.可升級動態范圍到80dB；
-
3.可升級高功率版本(2mW/5mW)。
產品推薦
