SSA是一款測量光學器件透射光譜響應的分析系統。其原理采用線性掃頻光源對待測器件進行快速掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的光譜響應，進而得到待測器件在不同波長下的損耗分布。該系統還可選配GD、CD、PDL、PMD等光學參數測量，系統內置掃...
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