LGA50光學器件分析系統具有功能齊全、性價比高等特點，可實現器件、光模塊等光學鏈路全范圍插損、回損、長度的精確測量。長度測量范圍為50m，精度可達毫米量級，空間分辨率為20μm，適用于定量分析、品質監測及故障診斷。...
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OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該系統采用獨特...
